E4991A E4991A 射频阻抗/材料分析仪 谭艳飞
公司名称：深 圳 仪 信 电子 科 技 有 限 公 司
:谭艳飞（总）——李玲（特助）
手机: 谭S 李S
技术咨询：蒋工
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地址：深圳市龙华新区油松路天汇大厦A栋408
主要特性与技术指标 基本精度
•基本精度 +/-0.8%
扫描参数
•频率：1 MHz 至 3 GHz
•振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
•DC 偏置电平（选件 -001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
•Windows 风格的用户界面
•内置 VBA 编程功能
•通过 LAN 接口进行数据传输
多功能测量选件
•介电/磁性材料测量（选件 -002）
•可靠的晶圆测量（选件 -010）
•温度特性测量（选件 -007）
描述
射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同， 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
材料评估
提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。
晶圆测量
借助-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Agilent 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。
温度特性评估
温度特性测试套件 -007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
