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产地：美国
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Emai：wyljhx2012
主要特点：
1） EX-6600 SDD 为您提供了zui*的灵敏度和选择度。
2） SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。
3） 8 个二次靶为快速精确的定量分析提供了zui大程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。*自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。
4） EX-6600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。
5） 10个位置的自动进样器整体设计允许了zui低限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。
6） 该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低。
7） 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。
指标参数：
| 测量能力 | |
| 测量范围 | Ｃ（６）－Ｆｍ（１００） |
| 元素含量分析范围 | ppm - （在应用领域中） |
| X光管 | |
| X光源 | Rh – 阳级标准 |
| X-射线电源 | 50kV, 50W. |
| 激发模式 | 二次靶激发模式 |
| 稳定性 | 室温条件下精确到0.1% |
| X光探测器 | |
| 探测器 | 硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮 |
| 分辨率 | 129 eV ± 5eV at 5.9 keV. |
| 窗口 | Be. |
| 特性 | |
| 自动成样 | 10 个位置 |
| 工作条件 | 空气/真空/氦气 |
| 滤光片 | 8款可选的软件 |
| 二次靶 | Ge |
| 电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz. |
| 脉冲加工 | 多信道分析 |
| 光学 | WaG ® （广角几何） |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 85×85×105（不含包装），145×95×135（含包装） |
| 重量 | 150Kg（净重），200Kg（总重） |
| 样品室尺寸 | 直径28cm,高5cm |
| 电脑 | 集成 pc. |
| 软件 | |
| 操作软件 | nEXt， 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。 |
| 控制 | 样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。 |
| 光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。 |
| 定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。 |
| 报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |
