常规电离室：
该电离室在穿过测量系统中，作为传感器，主要用于测量辐射厚度，辐射面积质量及密度。该测量基于传输或背向发射原则。在工业中，在崎岖工程和线性运作范围的应用上很有优势。其特点是结构紧凑，稳定性高，使用寿命长。我们的热稳定性非常高，由于其时间常数只有几毫秒，非常适合高速进程。如果使用镍铬钢箔（标准做法），光束的入射窗与高钢外壳进行精密焊接，从而确保良好的气密性。通过的粘接技术，钛，铍，云母，铝或塑料可替代镍铬钢箔进行真空密封连接。氪，氙气或氩气作为高纯气体填料，在对应的气压下可做具体应用。
产品介绍：
基本重量测量范围是通过所用源来界定的。所有可以在不同的核素和X射线能下操作（取决于所用箔窗，充气和气压）。
配件
我们提供高级放大系统作为我们的配件，其包括高压电源。 还可以提供适用于完整的测量头，其适用于我们生产的所有， 我们还提供不同的版本（带母线连接器和不带母线连接器）。
客户订制
我们根据客户的要求生产高品质的。用铝，钛，塑料，云母，铍等箔窗代替物，不同填料气（氩，氪，氙）或不同的气压（取决于所用箔窗），我们标准型号的产品也可以解决个别测量问题。
阵列
作为穿过测量系统的常规的可选择方案，我们提供多单元，单元尺寸为5至15 毫米。与线源结合的不仅提供覆盖横剖面，而且还可以探测本地故障，同时还可以测量覆层进程中的差别。
北京华恒鑫达科技发展有限公司还提供深水高纯锗谱仪、蓄水池全自动水样核素活度监测系统、同轴高纯锗探测器GCD系列（液氮致冷）、平面型高纯锗探测器GPD系列（液氮致冷）、便携式高纯锗γ射线谱仪、手持式高纯锗探测器、自带铅室高纯锗谱仪、液体和气体流量核素分析的屏蔽高纯锗谱仪、移动式高纯锗谱仪（现场使用）、X γ射线高纯锗谱仪（电致冷）、流动式高纯锗谱仪、CdZn TeCdTe探测器和相关电子附件等相关产品。
