主要技术特性
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）
≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）
≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～
介质损耗测试仪
介电常数测试仪
满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法
- 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
二、技术指标
1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6. DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7. 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
8． 使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
| 主要技术特性 |
Q 值测量范围 | 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 |
固有误差 | ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ） ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
工作误差 | ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ） ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
电感测量范围 | 4.5nH ～ 140mH |
电容直接测量范围 | 1 ～ 200pF |
主电容调节范围 | 18 ～ 220pF |
主电容调节准确度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％ |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz ～ 160MHz |
频率分段 （ 虚拟 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |
工具
，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
一、介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主电容调节范围 18 ～ 220pF
主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
BD916介质损耗测试装置技术特性
平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
电感：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
北广公司其它绝缘材料检测仪器:
BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪
BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪
BDJC系列电压介电强度试验仪器
BDJC系列 电压击穿试验仪
BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪
BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪
EST-121 体积表面电阻率测定仪
GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪
GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪
BDH 耐漏电起痕试验仪
BDH-B耐电弧试验仪
