HAST非饱和高压加速老化试验箱应用范围:
HAST非饱和高压加速老化试验箱)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。
HAST非饱和高压加速老化试验箱设备特点:
1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
3. 非饱和高压加速老化试验机水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。
4. 型packing ,材质:耐高温夕胶发泡成型,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.
6. 实验开始前可将原来内箱之空气抽出,并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom.以确保箱内之纯净度.
7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
8. 非饱和高压加速老化试验机机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
9. 水箱采用16L大容量水箱,置于箱体底部,采用自动补水功能;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.
HAST非饱和高压加速老化试验箱满足标准:
1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22
HAST非饱和高压加速老化试验箱规格参数:
型号 | PCT-250 | PCT-350 | PCT-450 | PCT-550 | PCT-250 M | PCT-350 M | |
控制器 | 微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器 | ||||||
分辨率 | 温度:0.1压力:指针式0.1 | ||||||
控制稳定度 | 温度:±0.5℃,湿度: | ||||||
内箱材质 | SUS316#不锈钢 | ||||||
外箱材质 | 钢板烤漆或不锈钢(依客户选择) | ||||||
尺寸(cm) | 内箱 | Φ25×D35 | Φ30×D45 | Φ40×D55 | Φ50×D60 | Φ25×D35 | Φ30×D45 |
外箱 | W56×H65×D105 | W66×H105×D125 | W76×H115×D135 | W86×H135×D145 | W56×H65×D105 | W66×H105×D125 | |
温度范围 | 110℃~132℃ | 110℃~147℃ | |||||
湿度范围 | RH饱和蒸气 | ||||||
压力范围 | 表压力+0.2~2.0kg/cm2 | 表压力+0.2~3.5kg/cm2 | |||||
加压时间 | 大约45分钟 | 大约55分钟 | |||||
循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | ||||||
安全保护 | 感温器检测保护,阶段高温保护,阶段高压保护,箱门压力限制,水箱缺水报警断电,温度加热器保护,湿度加湿器保护,二阶段高温保护,二阶段高压保护,三阶段紧急泄压保护,,手动泄压保护,自动泄压等。 |
【艾思荔仪器】坚持质量重于生命,狠抓质量,严把质量关,力求给客户无瑕的产品,让客户用着放心