CMI700的面铜标准片
孔、面铜测厚仪 CMI700系列
CMI760是CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计;采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和*的统计功能,统计功能用于数据整理分析。
型号 | CMI760 | CMI760E | 备注 |
名称 | 台式面铜测厚仪 | 台式孔、面铜测厚仪 |
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标配 |
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| SRP-4探针又称水晶头 |
选配 |
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700 SERIES主机参数:
- 存 储 量:8000字节,非易失性
- 尺 寸:长×宽×高292.1×270×140mm
- 重 量:2.79Kg
- 电 源:AC220V
- 单位转换:通过一个按键实现英制和公制的自动转换
- 单 位:可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位
- 接 口:RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
- 显 示:带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素
- 统计显示:测量个数,标准差,平均值,zui大值,zui小值
- 统计报告:需配置串行打印机或PC电脑下载,存储位置,测量个数,铜箔类型,线形铜线宽,测量日期/时间,平均值,标准差,方差百分比,准确度,zui高值,zui低值,值域,CPK 值,单个读数,时间戳,直方图
- 图 表:直方图,趋势图,X-R 图