DP-SZT-2000 数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪

数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪  型号：DP-SZT-2000

数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪  型号：DP-SZT-2000产品介绍

DP-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状

半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻行测量，可以从10^-6--10⁵Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。

仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在般工作台或者用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。

仪器电气箱主要由灵敏的直流数字电压表和稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能行校验。

仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究、等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。

数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪  型号：DP-SZT-2000仪器主要指标：

1． 范围：电阻率10^-4—10³Ω—cm，可扩展至10⁵Ω—cm，分辩率为10^-6Ω—cm

方块电阻10^-3—10³Ω /□

电阻10^-6—10⁵Ω

2． 可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm

3． 测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）

4． 数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

(2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）

2 mV档以上±（0.3%读数+2字）

(3)输入阻抗0.2mV、2mV挡10⁵Ω

20mV档以上>10⁸Ω

(4)显示3 1/2位数字显示，0—1999

具有性和过载自动显示，小数点、单位自动显示

5． 恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给

（2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档

（3）电流误差：±（0.3%读数+2字）

6．四探针测试探头 （1）探头间距：1mm (2)探针机械游率：±0.3%

(3) 探针：Φ0.5mm (4)压力：可调

7. 测试架：

（1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。

（2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。

8.电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9． 外形尺寸：电气箱130×110×400mm

半导体电阻率测试仪/电阻率测试仪/半导体电阻率测定仪(含探头和测试架）　型号：DP-BD-86A

DP-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度，稳定性好，输入阻抗，使用方便、价格低廉等点。

仪器主要指标：

1． 测量范围：电阻率10^-3—10³Ω-cm，分辩率为 10^-4Ω-cm ，可扩展到10⁵Ω-cm

方块电阻10^-2—10⁴Ω/□，分辩率为10^-3Ω/□，可扩展到10⁶Ω/□

薄层金属电阻10^-4—10⁵Ω，分辩率为10^-4Ω

2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm； 长度：150mm(可扩展500mm)

3.测量方式：轴向、断面均可

4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V

（2）测量误差：±0.3%读数±1字

（3）输入阻抗：大于10⁸Ω

（4）显示3 1/2 位红色发光二管（LED）数字显示

0---1999具有性、过载、小数点、单位自动显示

5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能

（1） 直流电流：0—100mA连续可调

（2） 量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3） 分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4） 电流误差：±0.3%读数±2字

6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标

7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标

8．电源：交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗< 30W

9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm

半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪 型号：DP-FZ-2006

本仪器是为了适应当前迅速发展中的分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关际标准的。 仪器的电流输出为 10 µA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用数字显示。仪器的可靠性和

稳定性大大增强，更方便于用户， 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、分子纳米粉末和固态金属行电阻、电阻率多用途的测量。

适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有精度加压系统, 度测量的测试台和仪器组成.

仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度，稳定性好，重复性好，使用方便等点， 并有自校功能。

本仪器采用际通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。

本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、等院校、科研、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的种重要工具。

参数；

1. 测量范围：
   • 电阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 电阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）

2. 测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
   测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）
3. 测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
   电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末
5. 试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 试样度：16mm ± 0.5mm
   测量误差：±0.1mm
7. 取样压力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
   压力量程：0 - 100 kg 可调
8. 显示方式: 电阻、电阻率、压力为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点
9. 电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm
11. 备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用 

微型速能粉碎机 能粉碎机 粉碎机 型号：DP-WWFS-Ⅱ

该机可用于破碎煤炭、焦炭、矿物质、土壤、砂、石和植物种子。适用于煤炭、焦化、地质、医药卫生、农业、工业的科研单位和化验制样室制取少量试样用。

二、主要指标

转子转速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎时间：3-5秒

电源：220V 50HZ

三、该产品点

1、转速：≥10000转/分

2、效率：50g物料仅需要3-5秒便可成粉碎，即简便又快速。

3、密封性好；工作中没有被粉碎的物料泄漏，使工作环境保持清洁。

4、性能稳定：可连续工作，使用寿命长。

剪切扩张两用钳/剪切扩张钳 型号：DP-GYJK-36.8～42.720-3

种工具同时具备剪切、扩张和牵拉功能。此钳的功能相当于台剪断器和台扩张器。

应用范围:

交通事故救援 地震等灾害救援 意外事故救援

适合机动式救援操作

撬门及使金属结构变形

切断金属结构、车辆部件、管道及金属板

点:

刀具采用可重磨的强度合金工具钢制

剪切防崩溅与自动复位手控转向阀，为操纵者提供安全保证

手控阀操作可使刀片的张开闭合处于任何位置，且具有自锁功能

张开闭合耗时短，加速救援程

主要参数

项目 参数

剪刀端部Z大开口距离 ≥350 mm

额定工作压力 63Mpa（630.000bar）

Z大剪断能力 15 mm(钢板)

（Q235材料） ф28mm(圆钢)

额定扩张力 32 KN （3.2吨）

质量 ≤14 kg

尺寸：长×宽× 760×210×170mm 

注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的