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全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF）
X射线荧光光谱分析法（XRF）的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以：
根据荧光的波长和能量，确定元素；
各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。
X射线由Mo靶或W靶产生，在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角度（0.3 – 0.6 °）掠射装有样品的样品架，并产生全反射。样品
主要技术特点
? 可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，含量范围ppb至，检出限到2pg。
? 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。
图2.4 S2 PICOFOX
? *的便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。
? 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。
? 第四代XFlash®SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。
? 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。
? 应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。
