比表面积及孔径分析仪V-Sorb 2800P测试结果准确性高，重复性好，仪器运行稳定，在比表面积、BET比表面积，比表面，孔径分布，平均孔径分布，孔体积，孔容积，孔结构，孔隙度，孔隙率，介孔分布，微孔分布测试方面广泛应用于下列领域：离子交换树脂，活性炭，碳纤维，碳纳米管，分子筛催化剂ZAM-5，Y型分子筛，X型分子筛，MCM介孔分子筛，细孔硅胶干燥剂，超级电容等，以及测试样品种类较杂的第三方检测机构。下面是比表面积及孔径分析仪V-Sorb 2800P的详细介绍：
V-Sorb 2800P主要性能参数：
极限真空：4x10－2Pa （3x10－4Torr）
氮气分压：5x10－6－0.995
控制精度：测试压力点控制zui小间隔可小于0.1 KPa
测试范围：0.01（㎡/g）--至无上限（比表面积）,0.35nm-400nm（孔径）;
测试精度：测试结果重复性小于1.5%，zui可几孔径重复精度 ≤0.02nm
测试效率：多点BET比表面每样平均20min ，孔径分析时间随材质不同各异
比面积及孔径分析仪样品数量：2个样品比表面积分析和2个样品预处理同时进行
硅胶样品预处理：独立的样品预处理系统，与样品测试同时进行，处理温度可达400度。
V-Sorb 2800P主要报告结果：
吸附及脱附等温线测定
BET法比表面积测定（单点及多点）
吸附常数C值的测定
Langmuir法比表面积测定
BJH总孔体积及孔径分布分析
样品真密度测定
平均粒径估算
t-plot图法微孔分析
t-plot图法外比表面积测定
MP法微孔分析
HK法微孔分析（包括C-Y校正）
SF法微孔分析
D-R法微孔分析
D-A法微孔分析
V-Sorb 2800P核心硬件配置：
压力传感器：*硅薄膜压力传感器，精度达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，一只1000T压力传感器
真空泵：采用德国进口的真空泵，噪音小，运行稳定，防油返功能，极限真空度高，可达4x10－2Pa （3x10－4Torr）
液氮面控制：V-Sorb*的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，*消除因死体积变化引入的测量误差。配置4L大容量液氮杯，zui少60小时无人介入连续分析。
V-Sorb X800 系列是北京金埃谱科技有限公司在2009年推出的系列产品，一经推出即具备了2站式V-Sorb 2800系列和4站式V-Sorb 4800系列。因此，推出之初就很快占领*，并在*实现自动化，智能化方面国内同行。而且也弥补了国内静态容量法落后于*技术的空白。V-Sorb X800在测试结果的准确性、*性和仪器运行的稳定性上上一经*达到的*水平。
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