雷达物位计注意事项：
1、测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。[7]
2、介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。
3、理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少100mm。
4、对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
5、zui小测量范围与天线有关。
6、随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
本公司雷达物位计质量保证，*，欢迎广大新老客户前来咨询。
雷达物位计质量保证
局限性
1、影响雷达性能的是介电常数，理论上在真空中雷达衰减极小，当空气中存在对雷达衰减物质，例如：高介电性的粉尘粉末(石墨，铁合金等)，水蒸气很大，测量距离效果要受影响。[6]
2、被测介质的挥发气体会在天线上聚集，水蒸汽会在天线上聚结，此时会影响雷达波的发射，严重时雷达波不能发出。
3、被测介质的介电常数不能太小。
4、尽管温度和压力对雷达影响极小，但雷达天线是由材料做成的，雷达可适应温度的压力的范围与使用的材料和密封结构有关。
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注意事项
1、测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。[7]
2、介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。
3、理论上测量达到天线*的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的*至少100mm。
4、对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
5、zui小测量范围与天线有关。
6、随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。
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