供应覆层测厚仪--薄膜测厚仪

涂层测厚仪概述

TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业*的仪器。

符合以下标准：

• GB/T 4957-1985 涡流方法
• JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
• JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

涂层测厚仪功能特点

• 采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
  （如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
• 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
• 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）
• 设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
• 可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
• 具有存贮功能：可存贮350个测量值
• 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
• 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警
• 具有打印：可打印测量值、统计值
• 具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理
• 具有电源欠压指示功能
• 操作过程有蜂鸣声提示
• 具有错误提示功能
• 具有自动关机功能

涂层测厚仪技术参数

• 测头类型：N
• 测量原理：电涡流
• 测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
• 低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）
• 探头连接方式：分体式导线连接
• 示值误差：
  1. 一点校准（um）：±[3%H+1.5]
  2. 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
• 测量条件：
  1. zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
  2. 基体zui小面积的直径（mm）：ф5
  3. zui小临界厚度（mm）：0.3
• 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
• 统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
• 工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
• 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
• 上下限设置：无
• 存储能力：350个测量值
• 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
• 关机方式：手动和自动
• 电源：二节AA型碱性电池
• 外形尺寸：152×47×35mm
• 重量：370g

涂层测厚仪基本配置

• 主机
• 铝基体
• 标准片一套|五片
• 二节AA型（5号）1.5V电池
• 仪器保护套
• 使用说明书

涂层测厚仪可选附件

• TA230打印机