TT230涡流测厚仪
涂层测厚仪概述
TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量；可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
符合以下标准：
§ GB/T 4957-1985 涡流方法
§ JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
§ JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
涂层测厚仪功能特点
§ 采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
§ 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
§ 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
§ 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
§ 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
§ 设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
§ 具有米、英制转换功能
§ 具有打印功能，可打印测量值、统计值
§ 具有欠压指示功能
§ 操作过程有蜂鸣声提示
§ 具有错误提示功能
§ 具有自动关机功能
涂层测厚仪技术参数
§ 测头类型：N
§ 测量原理：电涡流
§ 测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
§ 低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）
§ 探头连接方式：一体化
§ 示值误差：
§ 一点校准（um）：±[3%H+1.5]
§ 两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
§ 测量条件：
§ zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
§ 基体zui小面积的直径（mm）：ф5
§ zui小临界厚度（mm）：0.3
§ 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
§ 统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
§ 工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
§ 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
§ 上下限设置：无
§ 存储能力：15个测量值
§ 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
§ 关机方式：自动
§ 电源：二节3.6V镍镉电池
§ 外形尺寸：150×55.5×23mm
§ 重量：150g
涂层测厚仪基本配置
§ 主机
§ 铝基体
§ 标准片一套|五片
§ 充电器
§ 使用说明书
：
