456涂层测厚仪
适用于各种金属基体的涂层测量，性能*，经济实用，特色
* 基本型操作简单，经济耐用；标准型具数据输出功能，可连接计算机进行数据处理和打印；高级型，功能更趋完善。度身设计配合不
同应用。
* 整体探头可直接入在涂层上读数，简单易用，有铁基、非铁基、二合一标准式控头可供选择。
* 分离式探头有标准式、直角式及伸缩式设计，其中标准式、直角式探头适用于各种金属基体的平面、曲面深层测量，有铁基、、非铁
基三合一标准式及直角式探头可供选择；伸缩式探头适用于钢铁基体圆形工件的涂层测量，只有铁基探头可供选择。
* 测量范围0~1500um，分辩率0.1um（0-20um）/1um（20um以上），精确度：±3%或2.5um（参考有关产品详细说明书）。
* 配PINIPTM可于整体式探头上直接插用分离式探头。
* 456为2001年elcometer型号，人性化设计，外型流畅，易于把握。
适用于各种金属基体的涂层测量，性能*，经济实用，特色
* 基本型操作简单，经济耐用；标准型具数据输出功能，可连接计算机进行数据处理和打印；高级型，功能更趋完善。度身设计配合不
同应用。
* 整体探头可直接入在涂层上读数，简单易用，有铁基、非铁基、二合一标准式控头可供选择。
* 分离式探头有标准式、直角式及伸缩式设计，其中标准式、直角式探头适用于各种金属基体的平面、曲面深层测量，有铁基、、非铁
基三合一标准式及直角式探头可供选择；伸缩式探头适用于钢铁基体圆形工件的涂层测量，只有铁基探头可供选择。
* 测量范围0~1500um，分辩率0.1um（0-20um）/1um（20um以上），精确度：±3%或2.5um（参考有关产品详细说明书）。
* 配PINIPTM可于整体式探头上直接插用分离式探头。
* 456为2001年elcometer型号，人性化设计，外型流畅，易于把握。
