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仪表网>产品库>分析检测>无损伤检测>测厚仪>韩国先锋X射线膜厚仪-测厚仪
  • 韩国先锋X射线膜厚仪-测厚仪

韩国先锋X射线膜厚仪-测厚仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2018-05-14
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限11
  • 产品数量189
  • 人气值1289
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深圳精诚兴仪器仪表有限公司,自创立以来以优质的产品和服务及良好的信誉,
得到了广大用户的认可,在业界迅速发展。公司主要从事进口实验室检测设备和分析仪器的代理销售及其相关的售后服务,产品涵盖半导体、PCB及电子电镀等行业;
针对不同客户,我司亦有以下产品可供选择:
日本共立测试包总代理
主营产品介绍:X光镀层测厚仪、XRF2000荧光镀层测厚仪、PCB孔铜测厚仪,PCB特性阻抗检测仪,
化学沉铜、蚀刻铜、沉镍电镀药水自动添加控制器、铜箔拉力计、日本共立水质测试包,
凝胶温度测试仪、盐雾试验箱、水质测试包、金相切割、研磨、抛光器材及金相耗材,COD污水测试包、
共立水质测试包、水质分析仪 公司本着“科技为先,质量为重,诚信服务”的宗旨
竭诚为您提供高品质的产品和优良的服务,与您携手共创美好未来。... 

点击展示更多内容
XRF-2000先锋镀层测厚仪检测电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
x射线镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪,X荧光镀层测厚仪
韩国先锋X射线膜厚仪-测厚仪 产品详情

 

 

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪(*)

检测电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.03-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等

 

测量时间:10-30秒
 

精度控制:
      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内

XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品



XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

 

 

韩国Micor Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪结构功能

 

器功能 : 測量电镀层厚度

系统结构 :

箱,用分析电脑,液晶显示屏,色打印

尺寸

610 x 670 x 600 mm(订制加高型主机箱高度超过600mm)

箱重 : 约75 公斤

配件重量 : 約 35 公斤

样品台承重:5KG

以滑鼠移方式,驱动 XYZ 三,步进马达

XYZ 片台移动尺寸

200 x 150 x 100 mm

准直一个可选0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm

件包括 视察软件,

系统软件包括,测量,统计 

系统功能

测单层,双层或多层或合金层电镀厚度

标准规格

自动雷射对焦,XYZ全自XYZ片台,自动调整档案功能,电镀药液测量.元素配.

主机箱:

输入电压力:AC220V± 10% 50/60HZ

沟通方法:RS-232C

温度控制:前置放大及机箱温度控制

对焦:雷射对焦

安全装置:如测量中机箱门打开,X射线0.5秒内自动关闭

表面泄漏:少于1usv

多通道分析

通道数量:1024ch

脉冲处理:微电脑高速处理器

X射线源

X射线管:油冷

高压:0-50KV(程控)

管电流0-1mA(程控)

目标杷:W靶

校正及应用:单镀层,双镀层,合金镀层,标准样品再校正

2D,3D随机位置测量

2D:均距表面测量

3D:表面排列处理测量

随机位置:任意设定测量点

检测器:正比计数器

检测器滤片:CO或Ni(选项)

X-Y-Z三轴样品台

操作模式:高速精密马达,可控制加减速度

2D,3D随机定位,鼠标定定,样品台视窗控制,程控定位

机箱门打开关闭Y轴自动感应

统计功能:打印报告可显示zui大/zui小值,位移,平均值,标准差,测量位置图片显示及Bar图表等

多种测量报表模式可选(可插入公司标志及客户名称)

定性分析:

原素频谱显示,ROI距离定性分析,标签图案显示

指标显示:显示原素及测量数值,显示ROI彩色图

放大功能:局部放大,平均功能:柔和显法频谱

视窗大小:无级别式视窗大小.

 

韩国先锋XRF2000 X射线测厚仪

 

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

 

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒

 

精度控制
      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内

检测电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

x射线镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪,X荧光镀层测厚仪

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