OUMDL-III 近红外涂层定量仪OUMDL--电子/半导体检测仪器

OUMDL- III型智能近红外涂层定量监测系统

近红外反射式涂层定量测量仪是一种非接触式在线连续测量基片上涂层定量的仪器。该仪器采用反射式测量方式，近红外测量技术测量出基片上涂层材料的定量值，传感器发射出被涂层材料吸收 近红外光信号和不被涂层材料吸收的近红外参比光信号，这两种光信号照射到涂层材料上，与涂层材料作用后，再被传感器所接收，经数据处理显示出涂层定量的测量值。

一、仪器主要特点：

   1、无放射性污染，不需要到环保部门备案。

   2、多光束测量技术，提高了仪器测量的准确性。

   3、仪器采用特殊的结构设计及信号处理方式，保证仪器能*稳定的工作。

   4、仪器配有标准的输出接口。

二、产品主要技术参数

 1）、测量范围：0.1~30g/m²

2)、测量精度：Q≤±0.1g/ m²

3）、响应时间：τ≤20ms

三、应用范围

对于基片为纸底材：

胶粘涂层：水性、油性、热熔胶涂层

挤压塑料涂层

朔料乳剂涂层

腊涂层。

对于基片为薄膜底材：

水性粘胶涂层

水性乳液涂层

对于基片为金属底材：

胶粘涂层：水性、油性、热熔胶涂层

塑料涂层，

腊涂层。