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• ● 1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。*薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。*备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。（SII专用）● 2.测量原理如图1所示，物质经X射线或粒子射线照线后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。测定主机 (高度900mm,重125kg左右)(1) 样品室SFT9200可移动量: 220 (W) × 150(D) × 150(H) mmSFT9250可移动量: 400 (W) × 300(D) × 50(H) mmSFT9255可移动量: 400 (W) × 300(D) × 15 (H) mm样品种类: 固体，液体检测环境: 大气样品观察: 彩色CCD摄像头X射线安全机构: 样品室盖按键开启，测样时自动上锁安装环境：通风良好，温度10～35℃，湿度35～80%(2) X射线发生部照射方式: 由上往下照射（避免凹凸样品不能测试）X射线管 : W 靶管电压 : 45Kv管电流 : 1mA冷却方式: 空冷一次滤波器: Al固定二次滤波器: Co选配照射区域(5个标准配置): 0.1,0.2,0.3mm 圆型0.2×0.05 0.05×0.02mm 方型(3) 检测器检测器形式: 比例计数管(4)仪器校正自动校正（X射线强度，X射线能量）（5）X-Y-Z轴全自动

  何守柱 |发布于：2022-12-07