回答

• 任何仪器都有上下限及误差所以使用前要先把标准件拿来测试再进行涂层测厚程序并依校准的结果修正误差。

  何守柱 |发布于：2022-12-16

• 涂层测厚仪测量会产生误差的原因有基体金属磁化(基体金属磁性质会影响测量值精度,热处理和冷加工因素的影响都会产生影响。

  何守柱 |发布于：2022-12-16

• a)基体金属磁性质 磁性法和涡流法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影 响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可 用待涂覆试件进行校准。b)基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分 及热处理方法有关，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器 进行校准。c)基体金属厚度基体金属的厚度大于临界厚度(见表3)时，测量结果就不受基体金属厚度的影响。基体金属厚度小于临界厚度时，应对仪器进行基本校准。d)边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感，在靠近试件边缘或内转角处进行 测量是不可靠的。e)曲率 试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大，因此在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。f)试件的变形测头会使软覆盖层试件变形，在这些试件上无法测出可靠的数据。g)表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影 响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置 上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体试件上取几个位置对仪器进行零点校准; 或用对基体金属没有腐蚀的溶液除去覆盖层后，再对仪器进行零点校准。h)磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰测厚仪工作。i)附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此 必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。j)测头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此要保持压 力恒定。k)测头的取向 测头的放置方式对测量有影响，在测量中应当使测头与试样表面保持垂直。涂层测厚仪原理及影响精度的因素

  何守柱 |发布于：2022-12-16

• 涂层测厚仪会产生测量误差，我们分析一下原因，大致有这样几个方面，只要产生误差了，就分以下三个方面的误差，第一个是系统误差，系统误差来源于我们测量的仪器是否准确，也就是说你的仪器要首先校正，以后再进行测量具体的涂层。第二个方面的误差就是随机测量误差，随机测量误差呢，这是不可避免的，这是我们在策略测量的时候，人为的因素，那么这个人为的因素要减少误差的办法，就是我们采取多次测量，然后取多次测量的平均值的办法，这样可以减小误差，第三个方面的原因，就是你测量的涂层本身可能出现问题，各个地方涂层确实厚度不一样，是产生了误差了，对于这几种误差，我们在尽量避免的同时，避免的方式就是随机测量误差，我们采取平均数的方式，而系统误差采取校正仪器的方式，而其他误差就要判断环境条件，其他有没有改变，如果有改变，我们也要随环境的变化，而防止出现不应该出现的误差。

  何守柱 |发布于：2022-12-16

• 展开1全部引起涂层测厚仪测量产生误差的原因主要有：基体金属磁化（基体金属磁性质会影响测量值精度，热处理和冷加工因素的影响都会产生影响，所以最好使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准）；基体金属厚度过小（厚度过小，测量结果的偏差值会偏大，不应小于涂层测厚仪基体金属的临界厚度）；边缘效应（测量试样边缘时，由于试样边缘形状的不规则与加工时的粗糙容易对测厚仪的测量造成影响）；工件曲率过小（曲率变化对涂层测厚仪的影响非常大，如果您在平面的基材上校准零点后直接测量曲面，那么测值肯定有偏差，正确操作是必须在同一曲率半径的未经喷涂工件基材上进行零点校准，然后在测量涂层厚度）；表面粗糙度过大（软覆盖层试件在测量中可能会变形，因此也会影响精度。基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大，对测量精度的影响也就越大）磁场干扰探头（周围各种电气设备所产生的强磁场、妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质、测头置于试件上所施加的压力大小以及测头的防止方式，都会测量精度产生影响。）

  何守柱 |发布于：2022-12-16