孔径测量仪

孔径测量仪

孔径测量仪是一种用于信息科学与系统科学、力学、物理学、工程与技术科学基础学科领域的分析仪器,于2016年11月1日启用。孔径测量仪技术指标波长范围:370nm-1050nm;单次测量时间:一般全波长测量小于10秒;光源:稳定卤钨灯;样品尺寸:≤150毫米;薄膜厚度:0–3000纳米;孔隙率测量范围:0–95%.孔径大小及分布:0.5–40纳米;杨氏模量测量范围(孔隙率10%以上多料):1-5GPa。[1]孔径测量仪主要功能薄膜纳米孔径分析仪GAM-100,是台在常温常压状态下,对检测样品无损害基础上,表征纳米级多孔材料的仪器。无需真空系统的设计使得每个样品整个吸附、脱附测试可以在几分钟内完成。详情>>

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