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中国科大基于频率测量法实现超高精度分子线强度比

研发快讯 2025年09月23日 11:07:03来源:中国科学技术大学 16135
摘要研究团队开发的“双波长腔模色散光谱技术(DW-CMDS)”成功消除了测量中的共模误差,使分子跃迁强度比的测量精度达到十百万分之一水平,较此前国际最高水平(0.1%)提升近两个数量级。

  【仪表网 研发快讯】近日,中国科学技术大学分子精密光谱研究团队联合英国伦敦大学学院(UCL)与德国计量局(PTB)在分子精密光谱与量子计量领域取得突破性进展。其最新研究成果以“Unprecedented Accuracy in Molecular Line-Intensity Ratios from Frequency-based Measurements”为题,于9月17日在国际著名期刊《科学进展》(Science Advances)在线发表。该工作通过发展完全基于频率测量的光谱技术,将分子线强度比的测量不确定度降至0.003%,并首次实现基于光学方案、可直接溯源至玻尔兹曼常数的原级测温,统计不确定度低至0.5mK,较之前文献报道同类工作的精度提升10倍以上,为量子化学、精密测量及多学科交叉研究开辟了新范式。
 
图1.双波长腔模色散光谱装置示意图
 
  研究团队开发的“双波长腔模色散光谱技术(DW-CMDS)”成功消除了测量中的共模误差,使分子跃迁强度比的测量精度达到十百万分之一水平,较此前国际最高水平(0.1%)提升近两个数量级。这一技术突破直接推动了光学测温技术的革新:基于分子光谱的热力学温度测定可直接溯源至基本物理常数,无需依赖传统温标传递,在燃烧诊断、同位素分析等计量场景中展现出巨大应用潜力。
 
  图2.实验测量12C16O分子在3>>0 振动谱带线强度比值(296K)与其他理论实验结果的比较
 
  CO分子作为迄今研究最为透彻的简单分子之一,成为检验量子化学理论的理想对象。该研究对迄今最高精度的量子化学从头算理论进行了直接检验——实验数据和之前理论计算结果存在高达0.2%的系统性偏差,而与修正后的理论计算结果间的偏差可降低到0.02%水平,但仍然明显大于实验误差。这种“近乎完美却又暗藏差异”的结果,带来了对分子偶极矩面电子关联效应的新认识,实验结果将成为标志性benchmark,指引量子化学理论和计算模型的进一步优化。
 
图3.基于光学方案的高精度原级测温
 
  此项工作的核心价值在于其高度的学科交叉性:既是检验理论的“试金石”,通过实验数据验证最高精度量子化学理论预测的可靠性;也是精密光谱技术的“里程碑”,为分子物理参数测量树立新基准;更是计量学领域的“新工具”,可广泛应用于能源、环境等领域的高精度测量。《科学进展》期刊审稿人对该工作给予高度评价,称其为“an outstanding piece of experimental work……”“publication of this tour de force”“This is an astonishing result, and is well above the bar for publication in Science Advances”。
 
  研究团队表示,该技术有望进一步拓展至更复杂分子体系及极端物理条件下的测量,实现高精度的温度计量、气体与同位素分析等,助力解决量子化学、天体物理、地质化学等领域的关键科学问题。
 
  中国科学技术大学研究生李进科、合肥国家实验室王进博士为该论文共同第一作者,胡水明教授、谈艳研究员(中国科大)、Jonathan Tennyson教授(UCL)为论文共同通讯作者。本工作得到了合肥国家实验室、国家量子科技创新、国家自然科学基金、中国科学院先导专项等资金的资助。

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