中广测举办光谱技术交流会

　　2012年6月2日，广州测试分析中心联合举办广州光谱技术交流会，参加交流会的有来自企业、科研单位、高校等单位的代表共计160余人。
　　
　　本次交流会围绕光谱技术的新进展、行业应用两个主题，特邀行业专家、用户、厂商代表作了精彩报告。我中心陈江韩主任在会上致辞，并结合自身的科研工作对光谱技术的发展做了精辟的阐述。陈建平、陈云两位工程师分别作“ICP-MS在食品分析中的应用”和“原子光谱样品前处理”为主题的技术报告。陈建平工程师、郭鹏然博士结合自身工作实际，详细解答了与会者的提问。会后，与会者还参观了我中心实验室。
　　
　　本次交流会报告内容精彩，既有理论又结合工作经验，受到与会者的广泛欢迎，为行业内的技术工作者提供了一个沟通交流的平台。