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摘要国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”——“扫描式光场辐射度计”项目启动暨实施方案论证会在清华大学召开。

  【仪表网 研发快讯】近日,国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”——“扫描式光场辐射度计”项目启动暨实施方案论证会在清华大学召开,金国藩院士、柴之芳院士等作为技术专家组成员出席会议。苏州计量测试院国显中心参与项目中课题3“扫描式光场辐射度计的工程化开发”。
 
  会上,专家组对项目进行了论证,认为该项目有望突破传统远场测量限制,实施近场分布式高精度测量;项目技术路线、考核指标明确,课题设置合理;项目阶段目标和分工明确,计划安排合理;项目交流及检查机制健全,实施方案合理可行。专家组一致同意通过实施方案论证。
 
  近年来,苏州计量测试院国显中心致力于科技创新,多次参加国家级、省部级科技项目,获得良好的成果并取得了有效的推广应用。
 
  苏州计量测试院表示,此次参与国家重点研发计划,将进一步加强苏州计量测试院与大院大所的合作,培养苏州计量测试院人员的科技创新能力,提升苏州计量测试院的技术能力和影响力,促进产业高质量发展。

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