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摘要近日,在SPIE西部光子学2023展览会上,布鲁克公司宣布发布两款新的白光干涉测量(WLI)系统ContourX-1000和纳米柔性1000光学轮廓仪。

  【仪表网 产品快讯】近日,在SPIE西部光子学2023展览会上,布鲁克公司宣布发布两款新的白光干涉测量(WLI)系统ContourX-1000和纳米柔性1000光学轮廓仪

 
  这些落地式平台实现了表面纹理和粗糙度的更快速、自动化的区域测量。具有自动对焦和自动照明功能的全新一键式高级查找表面功能改善了用户体验,缩短了获得结果的时间,消除了每次测量前手动注册表面的复杂性。结合自适应测量模式USI和引导式简化VisionXpress界面,这种功能可在任何表面上以更高的处理量实现不折不扣的计量。
 
  ContourX-1000具有操作友好的自动化测量和分析配方,为半导体和光电加工、高级封装开发和医疗设备制造领域的大规模生产设施提供精确的计量。纳米柔性1000光学轮廓仪具有大型龙门式和旋转头设计,为汽车、医疗和大规模增材制造行业的精密加工QA/QC中的大型零件提供了高精度定位解决方案。
 
  “我从20世纪80年代就开始使用布鲁克光学仿形技术,这些新系统是30多年发展的完美结晶,”密歇根计量公司创始人兼总裁Don Cohen说。“对于速度、操作简便性和可重复测量至关重要的计量实验室来说,将自动对焦功能集成到独立系统中是真正的游戏规则改变者。”
 
  “布鲁克的光学轮廓仪产品组合具有行业领先的功能、快速的结果和非凡的易用性,”布鲁克摩擦学、触针和光学计量业务高级总监兼总经理Samuel Lesko说。“通过我们新的WLI解决方案,这些功能得到了进一步提升,特别是考虑到非专业用户在几秒钟内获得高质量结果的潜力,而在普通系统上需要几分钟。”
 
  关于ContourX-1000三维光学轮廓仪
 
  ContourX-1000以行业为重点,结合了布鲁克的专利倾斜头、自校准激光参考、集成模式识别和配方便携性。其通用扫描干涉测量(USI)自适应测量模式可自动确定最佳测量参数,简化的VisionXpress界面可将分析质量与用户的经验水平相分离。这种独特的硬件和软件组合能够以最快的速度获得最佳的计量结果,并为R&D和制造业带来最大的稳定性和工具间匹配能力。
 
ContourX-1000
 
  关于NPFLEX-1000 3D光学轮廓仪
 
  纳米柔性1000结合了的所有易用性优势ContourX-1000具有大形状因数的门架和坚固的桥结构。这纳米柔性1000系统在物镜下方300 mm的空间、旋转头和超长工作距离物镜下提供了最大的样品尺寸灵活性。此外,高坡度表面通道通过折叠镜选项显著扩展。这种极端的可用性可以在不妥协的速度;在10秒钟内完成快速、自动化的测量和全面的分析意味着生产环境的吞吐量有了重大提高。
 
纳米柔性1000

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