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云南昆明理工大飞行时间二次离子质谱仪通过验收

仪表研发 2017年03月20日 08:27:29 来源:中国高校之窗人气:11054
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  【仪表网 仪表研发】作为目前前沿的用于表面成分分析的科学装置之一,飞行时间二次离子质谱因具有分辨率高、灵敏度高、分析速度快、测量范围宽、样品消耗少等特点,无论在分析化学、环境科学,还是在生物医学领域,都得到了越来越广泛的应用。
 

 
  3月15日,昆明理工大学资产管理处组织专家组,对飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)进行验收。
 
  在逐一核实设备部件,配件型号、数量,质量分析器的动态离子能量扩展技术(EDR)后,专家组认为,该设备安装齐全,设备性能和EDR指标均已达到合同指标,通过验收。同时,专家组在设备的维护和管理、设备性能的开发利用等方面提出了一些意见和建议。截止目前,学校单价500万元以上的仪器设备已达到5台套。
 
  飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)主要用于矿物表面深度剖析、表面化学药剂吸附层厚度、表面微量组分、表面有机物吸附推测、表面3D表征及成像等表面微观研究。在进一步熟练设备操作和性能后,TOF.SIMS-5将正式投入使用,在矿物加工工程、矿物学、材料学、生命科学等专业的实验教学与科研工作中发挥积极作用。
 
  (原文标题:昆明理工大学“飞行时间二次离子质谱仪”通过验收 将正式投入使用 )
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