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国产复合型X射线荧光光谱仪亮相会展引关注

仪表新品 2017年03月29日 08:27:07 来源:地调局实验测试中心人气:14012
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  【仪表网 仪表新品】2017年3月5~9日,第68届匹兹堡实验室仪器展览会在美国芝加哥展览中心举行。地调局实验测试中心、北京钢研纳克检测技术有限公司、地调局南京地调中心等共同自主研发的 CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪惊艳亮相,受到众多专家学者的关注。
 

 
(图片来源网络)
 
  该仪器集波谱、能谱、微X射线分析于一身,集成了波谱和能谱的优点,扩展了X射线荧光光谱仪的分析领域,搭建了从厘米级总体分析到毫米级分布分析的桥梁。
 
  许多参加展会的客商,对CNX-808WE 波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪表示了极大的兴趣,并现场进行了详细咨询。通过这次参展,不仅了解到了仪器行业的新行情,开拓了视野,为今后的仪器研发工作带来了新的理念,更有助于该项成果的市场化。
 
  (原文标题:自主研发波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪亮相展览)
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