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西安交大团队发明高分辨成像新方法 可精准成像+实时动态追踪

仪表研发 2021年01月25日 09:04:58 来源:前瞻网人气:23616
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  【仪表网 仪表研发】传统的荧光显微成像技术在分辨率上有一定的限制,而激辐射损耗技术 (Stimulated Emission Depletion Microscopy, STED)等超高分辨成像技术,成为了研究人员们寻找解决方案的突破口。
 
  通过借鉴以往的经验,并不断摸索新可能,西安交大的科研人员们在高分辨成像领域取得重要进展。
 
  据悉,西安交通大学孟令杰教授团队针对商用染料聚集态发光亮度低及易光漂白等问题,开发了系列具有高亮度、大斯托克斯位移、优异光学稳定性能的有机荧光材料。在这一基础上,他们结合STED超高分辨成像技术,实现了构筑材料在亚细胞结构等的精准成像和实时动态追踪。
 
  摘要中提出,STED技术是一种很有前途的荧光显微技术,它可以在纳米水平上检测无法分辨的结构,从而在材料科学和生物研究中获得更高的成像分辨率。然而,除了显微镜的优化,发光材料在STED纳米技术中对于获得超高分辨率(小于100 nm)的成像、可视化甚至长期跟踪也具有重要意义,但这一点很少被总结。
 
  论文文综述了近年来用于超分辨率成像的STED荧光团的研究进展,包括无机荧光团、荧光蛋白、有机发光材料、聚集诱导发光(AIE)和荧光纳米颗粒。这些上述的STED荧光团的特性也被包括在内并进行比较,以提供对发光材料的特性和它们在STED成像中的性能之间的关系的深入理解。
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