由徐州市发明协会组织国家标准技术审评中心原国家标准技术审核专家李六有工程师、江苏师范大学赵波教授、北京邮电大学王俊教授、中国科学院半导体研究所罗帅副研究员、江苏影速集成电路装备股份有限公司李世光研究员等5名专家参加了审查会。会议推选国家标准技术审评中心原国家标准技术审核专家李六有担任审查专家组长。
江苏上达半导体有限公司联合武汉大学、江苏华商企业管理咨询服务有限公司等单位组织专家编写了《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》(项目编号：T/XAI2021-06)团体标准。
审查专家组在听取标准编制组汇报后，对标准文本进行了逐条审查，专家从术语定义、技术要求、原理、检测方法等方面给予了十分中肯而专业的修改意见并进行投票表决。专家审查结论如下：
1. 1.提供《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》(项目编号：T/XAI2021-06)团体标准审查会议的技术文件资料齐全、完整、真实可靠，符合《徐州市发明协会团体标准管理办法》(徐发协字〔2016〕7号)团体标准审查要求。
2.该标准的技术指标和原理、方法合理、具有可操作性，能满足企业使用的要求。
3.专家建议如下：
3.1“微米”统一换成“μm”；
3.2《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》4.1中注释重新整理；
3.3图片格式重新整理，使其美观，针对专家审查建议，进一步完善。
4.该标准格式规范，内容完整，表述明了，文字精炼，符合GB/T1.1-2020的有关要求。
审查专家一致同意《覆晶薄膜基板电气检查测试方法》(项目编号：T/XAI2021-06)团体标准通过审查，建议按与会专家提出的意见修改后形成团体标准报批稿，将于2021年12月中下旬正式发布实施。
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