原位监测椭偏仪IMS型是在科研级光谱椭偏仪的基础上，根据有机/无机镀膜工艺研究的需要研发的原位薄膜在线监测仪器，可用于金属薄膜、无机薄膜、有机薄膜的蒸镀、溅射等...

宽光谱成像光谱椭偏仪IE-L系列是结合单/双旋转补偿器椭偏调制技术和光学成像技术，实现对薄膜和纳米结构的实时可视化分析测量。可同时高横向分辨率的得到视场内样品上...

自动光谱椭偏仪SE-L型是一款科研级全自动高精度光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参...

自动光谱椭偏仪SE-L型是一款科研级全自动高精度光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动测量模块。通过椭偏参数、 透射/反射率等参...

光谱椭偏仪SE-VE型是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快...

光谱椭偏仪SE-VM型是一款科研级高精度快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料...

光谱椭偏仪Mapping系列是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。...

全自动Mapping光谱椭偏仪SE-100A是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapp...

宽光谱穆勒矩阵椭偏仪ME-L型是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，可通过反射/透射率、椭偏参数、穆勒矩阵和退偏指数等参数测量，实现各种光学薄膜和纳米结构的...