6433D/F/H/L光波元件分析仪 返回列表页

6433系列光波元件分析仪包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）。6433系列是面向高速电-光（E/O）器件、光-电（O/E）器件、光-光（O/O）器件特性测试的解决方案，调制频率范围覆盖10MHz~67GHz，支持不同频率范围、频率间隔、中频带宽的设置，最小频率分辨率达到1Hz。6433系列采用一体集成的设计方案，通过宽带硬件优化设计，构建网络误差模型，利用核心校准算法，实现了一键式宽带快速扫频测试，主要用于现代高速光传输系统中核心电-光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）、电-光器件（PIN光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）、光-光器件（光纤滤波器等光无源器件）的带宽、幅频响应、相频响应、群时延等参数测试。

主要特点

l 校准方便快捷，向导式操作流程

l 一体化多功能操作界面

l 大动态测量范围，测量轨迹噪声小

l 用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

l 单端-平衡光电器件模式测量

l 多功能化工具箱

l 内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

校准方便快捷，向导式操作流程

6433系列光波元件分析仪在校准方面具有清晰的操作流程，主要包括电校准和光路参数校准，通过采用向导式操作提示为用户提供快速高精度校准。

一体化多功能操作界面

6433系列光波元件分析仪具备了电-电、电-光、光-电、光-光四种测量模式，功能模式之间可任意切换，满足了目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。

大动态测量范围，测量轨迹噪声小

采用了高精度和响应平坦的内部核心器件，结合通过设定不同中频带宽和平均，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节。

用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

通过用户自定数据或夹具去嵌入数据提升测量精度，尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。

单端-平衡光电器件模式测量

仪器可通过选用不同的配置，满足单端-单端和单端-平衡的光发射或光接收器件或组件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。

多功能化工具箱

内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，通过高级设置，可将光发射模块设定为保偏激光源输出模式（CW）模式，消光比大于20dB，为M-Z型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。

内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。