FI-IR光谱仪的测量对象是呈原子状态的金属元素和部分非金属元素，是由待测元素灯发出的特征谱线通过供试品经原子化产生的原子蒸气时，被蒸气中待测元素的基态原子所吸收，通过测定辐射光强度减弱的程度，求出供试品中待测元素的含量。
 

　　对FI-IR光谱仪射线強度有影响的因素是什么呢?定量分析是以荧光x光线的強度为根据的，影响FI-IR光谱仪射线強度的因素会影响分析的精确度，以下是主要两大影响因素：
 

　　一、基体效应:
 

　　基体效应包含吸收效应及加强效应。
 

　　吸收效应包含基材对入射x光线的吸收及对荧光x光线的吸收。由于用射线激发试品时，不只是作用于试品表层并且能穿透相应的厚度进入试品里面，并且试品里面分析元素形成的荧光x光线，也必须穿过相应厚度的试品才可以射出。在穿透过程中，这二种x光线都会因基材元素的吸收而使射线強度减弱，射线减弱会影响对分析元素的激发效率。
 

　　假如入射x光线使基材元素激发所形成的荧光x光线的波长略短于分析元素的吸收边，它会使分析元素形成二次荧光x光线，进而使分析元素的荧光x光线強度加强，这就是基材的加强效应。
 

　　假如吸收效应占主导作用，则分析結果稍低，假如加强效应占主导作用，则分析結果较高。
 

　　二、不均匀效应:
 

　　不均匀效应就是指试品颗粒大小不均匀及试品表层光洁度对荧光x光线強度的影响。对粉末试品，大颗粒吸收效应强，小颗粒吸收效应弱，因而，要求颗粒粒度尽可能小一些，以减少对x光线的吸收。测短波x光线时，要求粒度在250目以上，测量波长超过0.2nm的长波x射线时，则粒度要求在400目以上。
 

　　固体块状试样一定要磨平拋光，粉末试样要压紧并使表层平滑。粗糙表层会使荧光x光线的強度明显下降。测量短波x光线时，光洁度在1005m左右，测量长波x光线时，光洁度为20-50Mm。