全自动台式涂层测厚仪及膜厚仪 返回列表页

全自动台式涂层测厚仪及膜厚仪X-Strata920：无损测厚仪，X射线荧光镀层测厚仪，是PCB、FPC、LED、SMT、联接器、支架和封装、五金产品（螺栓、螺钉类等紧固件）、端子、汽车零部件、卫浴洁具等行业的生产商、供应商重要的检测工具；也被众多的高校、检测中心所使用。是牛津仪器经过多年的酝酿，发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出,是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人为操作误差；操作简单，测量仅需三个步骤；快速简洁，耗时10秒即可得出测量结果。是质量控制、节约成本的检测工具。

全自动台式涂层测厚仪及膜厚仪工作原理： 对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

日立新款X-Strata920镀层测厚仪具有什么样的特点？

X-Strata920镀层测厚仪是日立仪器推出的性价比*的X射线镀层测厚仪，它结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，确保同级别中精确性度，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。