当前位置：长沙市天恒科学仪器设备有限公司>>物理光学仪器>> SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B显微熔点仪-光度计
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
| SGW®X-4 | SGW®X-4A | SGW®X-4B | |
| 熔点测量范围 | 室温至320℃ | 室温至320℃ | 室温至320℃ |
| 测量重复性 | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) |
| 温度显示小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
| 熔点观察方式 | 单目显微镜 | 单目显微镜 | 双目体视显微镜 |
| 光学放大倍数 | 40× | 40× | 40×-100×连续变倍 |
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
仪表网