广州智慧源电子有限公司
广州智慧源电子有限公司
| 产地 | 国产 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 适用行业 | 电子电器 |
智慧源（SmartSourcing）作为电子测试仪器领域的品牌，始终以技术创新和精准测量为核心，为客户提供专业化的晶振测试解决方案。石英晶振测试仪GDS-80M专为高频晶振的研发、生产及品控环节打造，全面覆盖1MHz–60MHz测试频段，助力用户突破高频晶体的性能瓶颈，实现更高效、更精准的品质管控。
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产品概述
晶振测试仪GDS-80M搭载智慧源自主研发的宽频测试技术，支持高频晶振的全参数快速测量与深度分析。其创新的自适应抗干扰算法与多频点校准功能，确保在复杂电磁环境下仍能保持超高的测试重复性与稳定性，适用于5G通信、卫星导航、高速计算等高附加值领域。
串联谐振频率（Fs）与负载谐振频率（Fl）
Fs（无负载谐振频率）：精准测定晶体在零相位偏移下的固有频率，误差低至±0.1ppm，为高频晶振的基础性能提供核心数据。
Fl（负载谐振频率）：通过可编程负载电容（5pF–100pF）模拟真实电路环境，验证晶体在目标应用中的实际工作频率。
等效电阻（R1）与负载电阻（RL）
R1（谐振电阻）：直接反映晶体的能量损耗水平，分辨率达0.1Ω，可快速识别有缺陷或性能退化的晶振。
RL（负载电阻）：结合用户自定义的负载电容，精准匹配高频电路的阻抗特性，避免信号反射导致的频率失真。
动态参数（C1/L1）与品质因数（Q值）
动态电容（C1）与电感（L1）：基于改进型π型等效电路模型，自动计算晶体的动态参数，帮助优化高频电路的相位噪声与抗振性能。
Q值：支持10^6级品质因数测量，助力设计高稳定性振荡器与窄带滤波器。
负载电容（CL）与频率牵引力（TS）
CL调节范围：0~1nF（步进0.1pF），支持多级负载电容切换测试，满足TCXO/VCXO等复杂晶振的调频需求。
TS灵敏度分析：量化频率随负载电容变化的斜率（ppm/pF），为高频电路的温度补偿设计提供关键参数。
高频覆盖能力：采用超低相位噪声信号源与多级滤波技术，可在1MHz–60MHz范围内实现-160dBc/Hz@1kHz的相位噪声性能。
极速测试：多参数并行处理架构使单次测试时间缩短至0.3秒，配合1000组内部存储，大幅提升产线效率。
智能互联：配备LAN/USB/GPIB接口，支持SCPI指令集与LabVIEW二次开发，无缝集成自动化测试系统（ATE）。
防护：全铸铝外壳通过IP54认证，内置主动温控系统，可在-40°C~85°C严苛环境下稳定工作。
5G基站与光模块：验证高频晶体在毫米波频段的频率稳定性与抗干扰能力。
卫星导航与雷达：保障温度下晶振的频率精度与长期老化特性。
AI算力芯片：为GPU/FPGA提供超低抖动的时钟源校准支持。
车规级电子：通过AEC-Q200认证，满足动力系统与ADAS模块的测试需求。
智慧源晶振测试仪GDS-80M以高频覆盖、超精测量、智能扩展三大核心价值，重新定义高频晶振测试新标准。无论您是追求精度的研发机构，还是需要万级产能保障的制造企业，GDS-80M都将成为您值得信赖的品质伙伴。
智慧测试，源于专业——智慧源驱动高频科技未来！
注：本产品可根据需求选配晶振老化测试模块与三温测试夹具，全面满足IEC 60679、MIL-PRF-3098等国际标准要求。
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