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一、产品概述
晶振频率测试仪 GDS-80P 是一款高性能的晶振测试设备，专为满足石英晶体阻抗特性的测量需求而精心打造。该仪器采用π型网络零相位法，实现高精度的测量，符合IEC-444标准。其测试频率范围为10KHz-100MHz，能够对晶振的多种关键参数进行全面、准确的测试，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引力等。广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。
二、核心优势
（一）全频段智能测试
晶振频率测试仪GDS-80P 实现10kHz–100MHz全频覆盖，适配从低频计时器到高频5G模块的全场景需求，一机覆盖全频段，无需多设备采购，综合成本降低40%。
（二）九大参数同步测量
能够同步测量谐振频率（串联谐振频率Fs、负载谐振频率Fl）、阻抗特性（等效电阻R1、负载电阻RL、负载电容CL）、动态性能（动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q值、频率牵引力TS）等九大参数。
（三）智能抗干扰设计
采用多级数字滤波技术，复杂工况下测试稳定性提升80%；全金属屏蔽机身，通过EMC Class B认证，无惧电磁干扰。
（四）极速测试体验
多线程并行处理架构，单次测试仅需0.25秒；支持500组数据存储，一键导出PDF/Excel报告。
（五）全场景适配
宽温工作范围（-30℃~70℃），满足工业车间及实验室环境；可选配自动探针台，无缝对接SMD晶振产线检测。
三、技术参数
| 项目 | 规格 |
|---|
| 测试频率范围 | 10KHz-100MHz |
| 负载电容 | 1-100pF |
| 负载谐振电阻 | 1Ω-300Ω，1K-300K |
| PPM范围测量 | ±300ppm，测量精度：<0.5ppm |
| 时基频率 | 16.384M |
| 晶振稳定性 | 2×10⁻⁸/日 |
| 体积 | 80×235×305（mm） |
| 保修期 | 三年 |
四、使用说明
（一）开机准备
将晶振测试仪GDS-80P连接电源，开机后等待设备自检完成，确保设备处于正常工作状态。
（二）连接晶振
根据被测晶振的类型和测试需求，将晶振正确连接到仪器的测试端口。仪器可适配不同封装的晶振，包括SMD封装（如3225/5032等）、插件晶振（如HC-49/U/S）等。
（三）参数设置
在仪器的操作界面上，根据具体的测试要求设置相应的参数，如测试频率、负载电容等。仪器具备智能分析系统，可自动识别并适应不同的测量需求。
（四）开始测量
确认各项设置无误后，点击“开始测量"按钮，仪器将自动进行测量，并在屏幕上显示测量结果。测量过程中，仪器会实时采集数据，并进行分析处理。
（五）数据读取与保存
测量完成后，用户可以在仪器的屏幕上查看测量结果，包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数。通过RS-232接口或USB接口，可将测量数据上传至电脑进行数据管理和分析。
五、采购信息
