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美国达高特CMX DL+涂层基体超声波测厚仪

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具体成交价以合同协议为准

产品型号CMX DL+

品       牌

厂商性质经销商

所  在  地济宁市

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更新时间:2025-05-07 16:09:55浏览次数:269次

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产地 国产 加工定制
美国达高特CMX DL+涂层基体超声波测厚仪
•测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)
•显示模式(数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>)
•增益可调节:超低、低、中、高、超高
•增益值可到110dB

美国达高特CMX DL+涂层基体超声波测厚仪

产品特点:
•测量方式(仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度)
•显示模式(数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>)
•增益可调节:超低、低、中、高、超高
•增益值可到110dB
•自动增益控制(AGC)
•时间增益校正(TCG)
•探头自动识别,自动调零和温度补偿
•大值、小值显示
•可存储64个用户参数设置
•高速扫查(50次/秒)
•高达140HZ的脉冲重复频率
•B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
•A扫描波形显示和RF显示(CMX DL+)
•差值测量模式
•高速扫查功能可用于快速找到壁厚的小值
•上/下限声光报警功能
•数据存贮:可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
•可通过软件与计算机进行数据交换,方便用户打印检测报告

技术参数:

键盘:12键按键
测量范围:
界面波-底波(P-E)方式:0.63-508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式: 0.63-508mm
多层测量(PECT)方式:0.63-508mm(基体) 0.01-2.54mm(表面涂层)
穿透涂层测量(E-E)模式:2.54­—102mm(因涂层的不同会有所变化)
仅测量涂层(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂层的不同会有所变化)
显示精度:0.01mm(可方便的进行公制和英制的转换)
声速范围:1250-13995m/s
工作温度:-10℃—60℃
探头类型:1—10MHZ双晶探头
探头接口:LEMO“00”,可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口:RS232接口(配备USB转RS232接头)
电池工作时间:150小时(3节5号碱性电池)100小时(3节5号镍镉电池)
省电功能:5分钟无任何操作后能自动关机
  屏:62X45.7mm(240 X 160像素),大数字厚度值显示(厚度值数字高度可达17.78mm)
外观尺寸:63.5X165X31.5 mm
重量:382 g

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