产品原理
XRD分析仪 便携式X射线衍射仪当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，这就是X射线衍射的基本原理。
XRD分析仪 便携式X射线衍射仪
应该范围
矿石与矿产
快速分析富含铁的矿石，比如:石英、赤铁矿、针铁矿、磁铁矿；
对煤中的方解石(CaCO3)进行定量分析；
对碳酸钾、钾盐、岩盐、无水钾镁矾及钾镁矾等辨别出的矿物进行晶相识别和半定量分析；
对混有石灰石的普通矿石进行定量分析，比如：a-石英、石棉矿石、方解石、白云石；
用于对尾矿进行重新分析，以判断工厂的操作性能，或者对以往的项目进行评价.
石油化工
对油田的页岩岩屑进行矿物识别和定量，以在地质导向和水平钻井的现场迅速获得反馈，简化对特定矿物层进行“追踪矿脉走向”的工作；
辨别和定量管线中的腐蚀材料，还可以同时进行xrf测量，以快速辨别材料的元素成分.
爆炸物/危险物
现场快速辨别爆炸物和可疑爆炸物；
辨别和定量可疑的危险材料、熔融材料及催化剂；
用于违禁品鉴定、法医物证鉴定、海关核查等执法工作.
制药业
快速辨别药物；
快速鉴别药品原辅料；
对药品制剂、前体药物进行快速无损的指印分析；
对药物中的活性和非活性成份、外来成份或替代成份的存在状况及含量进行检测.
| XRD分辨率 | 0.2°@2θ FWHM |
| XRD范围 | 5-55°2θ |
| 探测器 | 2000 X 256像素,2维3级Pelter制冷CCD |
| X射线管靶材 | 集束微焦斑X射线管 Cu 或 Co, Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配) |
| X射线管电压 | 50kV最大，0-50kV可调节 |
| X射线管功率 | 50W最大，0-50W可调节 |
| XRF能量分辨率 | 127eV@8keV |
| XRF检测范围 | 镁(Mg)一铀(U) |
| 样品颗粒大小 | 样品颗粒<150um (100目筛) |
| 样品量 | 约 20mg |
| 工作温度 | -10°C-35°C |
| 重量 | 14Kg |
| 电源 | 锂离子电池或电源适配器 |
| 尺寸 | 48.5 cm X 39.2 cm X 19.2 cm |
| CrystalX分析软件语言 | 中文、英语等 |
X射线衍射仪 晶体结构检测 矿石分析 物相分析 元素成分检测
XRD分析仪 便携式X射线衍射仪
产品配置
映系统由X光管，X射线准直器、探测器、冷却系统、样品振动系统、CrystalX物相分析系统软件等主要部件构成.
X射线准直器
X射线准直器采用针孔准直系统，替代传统大型台式机的光学校准部件，光栅作用一致.
X光管
仪器配置集束微焦斑X射线管，可保证X射线良好的聚焦性，靶材标准配置为Cu或Co，并可根据检测样品情况选择使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W等。集束微焦斑X射线管保证了X射线良好的聚焦性.
冷却系统
采用三级Peltier电子制冷和专用的双向通风式散热装置，可有效保证探测器正常工作温度.
X射线衍射仪 晶体结构检测 矿石分析 物相分析 元素成分检测
样品振动系统
样品振动系统替代传统测角仪，在样品检测过程中，X光束和探测器均静止不动，而所检测样品通过磁性连锁装置高速振动，保证样品颗粒的随机性，以获取更高品质的衍射信息.
XRD分析仪 便携式X射线衍射仪
CrystalX物相分析系统
除了采用高品质、高性能的硬件配置外，映还配备了高智能、高效的晶体X应用分析软件.使仪器更加可靠、精确，晶体X射线衍射控制系统与物相分析系统结合，可简化图像平滑、寻峰、精修等工作，轻松实现一键出结果。
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