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全光谱过程分析仪

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所  在  地上海

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更新时间:2022-08-16 12:25:11浏览次数:261次

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产品简介

全光谱分析仪NIR-O是光谱全过程分析仪系统和在线光谱分析仪器,适合测量材料成分和物理特性

详细介绍

全光谱分析仪NIR-O是光谱全过程分析仪系统和在线光谱分析仪器,适合测量材料成分和物理特性。它是包括光谱仪,一个或多个NIR近红外光谱探头,光纤和OmniView的综合过程分析软件构成。
全光谱分析仪使用近红外辐射从液体、气体、玻璃和聚合物薄膜中收集光谱数据。光谱数据由OmniView软件进行解释,以确定材料的成分或物理特性,所有这些都是在具有实时挑战性的工艺环境中进行的。
全光谱分析仪NIR-O全套实验室分析仪系统
实验室全光谱分析仪采用与全光谱过程NIR-O相同的光学组件进行设计。这使得实验室中开发的校准可以直接移动到NIR-O现场分析仪,以实现无缝和精确的数据传输,具有高精度和可靠性。
实验室全光谱分析仪是一个6通道近红外(1000-2100nm)分析仪。实验室和过程NIR-O都提供了出色的信噪比、波长稳定性、NIST可追踪波长校准、双光束光学和内置诊断。实验室NIR-O包括SMS过滤器和用于硬件和光学性能常规验证的脚本。使用6个可用通道中的一个,SMS现在位于分析仪内部,因此,该通道上还必须安装光纤跨接电缆。实验室NIR-O与所有导波探头和流动池兼容,可用于满足分析需求的任何组合。
全光谱分析仪中试工厂应用
中试工厂通常会在传统的研究级实验室分析仪和为现场条件开发的过程分析仪之间做出选择。实验室NIR-O的开发基于我们的NIR-O过程分析仪,然而,在实验室环境中不必要的部件,如空调,被移除。这就产生了一个流线型的桌面分析仪,也可用于中试工厂操作。另一个好处是,当项目进入全面运行时,校准可以快速转移到过程分析仪。
全光谱分析仪规格参数

Product NameLAB NIR-O
Analyzer TypeDG-NIR Spectrometer, Post-dispersed scanning grating
Product Part Number 
Bandwidth6.0 ± 0.3 nm (@1307 nm); 5.9-6.7 nm (Full Range)
CertificationsOptional CSA
Channels6
CommunicationsModbus TCP over Ethernet
Controller/DisplayTouch Screen
Detector TypeExtended Range InGaAs with 2-stage TE cooler
Dimensions Enclosure (w x d x h)28.3 [719 mm] X 19.1 [484 mm] X 13.6 [346 mm]
Dual Beam1 reference channel for each 6 available sample channels


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