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WYPLSpec系列光致发光光谱测试系统
本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或进紫外激光激发半导体材料(如GaN、Zno、CdTe 等)产生荧光;或用可见、红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生的荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析材料能带结果等特征。
系统型号WYPLSpec系列光致发光光谱测试系统
WYPLSpec I 常温扫描型
WYPLSpec II 低温扫描型
WYPLSpec M Mini 摄谱型
本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或进紫外激光激发半导体材料(如GaN、Zno、CdTe 等)产生荧光;或用可见、红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生的荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析材料能带结果等特征。
技术指标:WYPLSpec系列光致发光光谱测试系统
● 光谱范围:200-2500nm(可根据实际需要选择)
● 波长准确度:±0.2nm
● 光谱分辨率:±0.1nm
● 光谱带宽:0.2-10nm 可调
● 光源波长:224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1964nm 等可选
● 可升级做透射、反射光谱测试
2016年1月21日,上海交通大学激光制造实验室迎十周年庆暨中德激光制造技术交流会在上海交通大学闵行校区举行。中国*部长万钢和德国教研部部长Johanna Wanka女士出席并致辞。**司副司长陈家昌,上海市科委主任寿子琪,上海交通大学校长张杰、常务副校长林忠钦等出席会议。上海交通大学副校长黄震主持活动。
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