X射线荧光（XRF）分析原理
X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，经过二十多年的探索以后，现在已成熟，已成为一种广泛应用于冶金、有色、建材、环保等各个领域的分析技术。每个元素的特征X射线强度除与激发源的强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。这就是XRF分析的基本原理。

奥林巴斯（原伊诺斯）的手持式X射线荧光（XRF）分析仪可以通过无损方式快速分析从镁（Mg）到铀（U）的多种元素，其可测量的元素含量可低达几个百万分率（ppm），也可高达（100 %）。无论在何时何地，只要有需求，都可以在现场进行检测，并即时得到分析结果，其所提供的数据有助于用户确定下一步要进行的操作。

高科技神器XRF分析仪-Vanta
奥林巴斯的高科技“神器”XRF分析仪——Vanta，在业界收获了*！Vanta分析仪是奥林巴斯为用户提供的*手持式X射线荧光（XRF）设备，可以为那些要求在野外环境获得准确分析水平的用户，进行快速准确的元素分析和合金辨别。