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恩德斯豪斯E+H物位信号发射器FQR50-A1GDA
恩德斯豪斯E+H物位信号发射器FQR50-A1GDA液体和固体颗粒连续物位测量和限位检测,确保稳定的产品质量、工厂安全性和经济效率 - 这就是为什么要进行物位测量的重要原因。液体、浆料、固体颗粒和液化气物位测量常用于储罐、料仓和槽车。对于连续物位、界面、密度测量以及限位检测,有多种测量原理可供选择。Endress+Hauser为您提供从测量点规划、调试到维护的全程服务。
Soliwave FQR50微波限位开关发射器适用于非接触式限位检测,可安装容器、导管、传动轴或自由落体轴中,也可安装在非金属容器外部进行测量,控制并计数各种类型的颗粒固体。可与Soliwave FDR50接收器配套使用。
齐平式非接触式安装
机械部分结构坚固:- 无磨损; - 使用寿命长; - 免维护。
可在接收器上显示信号强度。
可调灵敏度
使用R 1-1/2-或1-1/2NPT-螺纹,安装方便
符合ATEX1/2GD与IECEx标准
Soliwave微波限位开关适用于非接触式限位检测,可安装容器、导管、传动轴或自由落体轴中,也可安装在非金属容器外部进行测量,控制并计数各种类型的颗粒固体。
典型测量的颗粒固体包括:E+H物位信号发射器FQR50-A1GDA
木屑、木粉与面粉
石膏、水泥与石灰
纸张及硬纸片,碎石与沙粒,常见的干粉,袋状或盒状包装体等
测量原理 | 微波隔栅 |
特点/应用 | 非接触测量的微波变送器 |
电源/通信 | 变送器 |
环境温度 |
|
过程温度 | 外部微波发射(非接触式):任何温度;安装范围内的微波发射(接触式):-40 ... +80℃ |
过程绝压/zui大过压界限 | 外部微波发射(非接触式):任何温度 |
zui小被测介质密度 | 固料重量>10g/l |
接触介质部件 | 非接触式 |
过程连接 | "1-1/2" G + NPT或微波从外部发射/外部安装,金属材质的罐壁" |
卫生型过程连接 | 外部微波发射(非接触式) |
输出 | DPDT继电器 |
证书和认证 | ATEX |
可选项 | 法兰 |
应用局限 | 外部微波发射(非接触式),固料重量>10g/l |
组件 | 接收器:FDR50;变送器:FTR325, FTR471 |
其他 | FQR56 E+H物位信号发射器FQR50-A1GDA |
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