膜厚测试仪的注意事项有哪些？

　　膜厚测试仪是我们常用来测量覆膜膜厚的一种工具，但是针对不同的材质和状态，涂层测量的数据也有一些区别。所以我们在使用膜厚测试仪的时候需要注意一些细节上的问题，今天膜厚测试仪生产厂家一六仪器的小编就来跟大家了解一下吧。

　　● 金属基体材质

　　不同金属基体材料的磁性、导电率是不相同的，这都会对测量结果造成影响。采用磁性法测厚容易受基体金属磁性变化的影响，而为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，亦可用待涂覆试件进行校准。由于基体金属的成分及热处理方法不同，导致其电导率不同，因此应使用与被检测试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　● 注意检测试件形状

　　在实际生产中，工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异，这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响，如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度，检测结果就会与实际厚度有差别。一些仪器对试件表面形状的陡变十分敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量的数值会不可靠，实际测量时应选择远离边缘和内转角的部位，应尽可能选择在平面部位进行测量。

　　● 注意工件表面粗糙度

　　实际生产中，不同工件的表面粗糙度也不尽相同。粗糙程度越大，对一些仪器的测量结果影响越大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。总之，仪器的校准必须依据现场被涂工件表面粗糙度来进行。

　　以上就是膜厚测试仪厂家一六仪器对于膜厚测试仪的相关介绍，如果你想要了解更多内容，欢迎联系我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。