X荧光光谱仪性能评估三要素，你了解吗？

　　X荧光光谱仪根据用途和设计针对性有很多俗称：如X荧光测厚仪、X-ray膜厚仪、光谱测厚仪等，随着技术的不断发展进步，X荧光光谱仪在非常多的领域都得到了广泛的应用，对于企业发展提供了很大的助力，很多人在购买X荧光光谱仪的时候不知道看什么，实际上X荧光光谱仪性能评估需要注意三要素，今天跟着X荧光光谱仪厂家来了解一下吧。

　　1.最小测量面积：性能好的仪器最小测量直径可以到0.1mm以下。

　　2.可测样品形状的复杂程度：除了对焦还搭配变焦装置和算法，可以测试凹凸高低落差90mm以上。

　　3. 测量样品的组分结构：除了测试一般合金和多层膜厚，还可以测试重复镀层和轻元素等。

　　X-RAY测厚仪配备的微光聚集和变焦装置搭配了*的解谱技术，再结合新型的探测器及数字多道处理，在一六仪器的新算法软件上，让成分及Rohs分析可以在更微小的样品上也实现了精准测量。各装置高度集成，不分散、不弱化光强，能够*兼顾RoHS、全元素分析、各种大小异形涂镀层样品的快速精准检测，每一个功能都是专业的。

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