武汉普赛斯仪表有限公司
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  • LIV光电特性测试脉冲恒流源

    LIV光电特性测试脉冲恒流源超窄至1us的脉宽,大到30A的脉冲电流,兼容CW和QCW模式,丰富的软件接口,可广泛用于LD脉冲电流、脉冲电压、PD光电流、背光二...

    型号: PL202 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/9 9:24:02 对比
    脉冲恒流源脉冲电流源脉冲电源脉冲电流源测脉冲光功率测量
  • 半导体性能测试数字源表

    武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家,产品系列丰富:产品覆盖不同的电压、电流范围,产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用,市场应用率高;SXXB系列高精...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/3 9:31:40 对比
    源表数字源表半导体性能测试半导体测试半导体测试源表
  • 3500V高压恒流源

    3500V高压恒流源具有输出及测量电压高(3500V)、能输出及测量微弱电流信号(1nA)的特点。设备工作在第一象限,输出及测量电压0~3500V,输出及测量电...

    型号: E300 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:26:56 对比
    高压恒流源高压电源脉冲高压源高压程控电源脉冲高压电源
  • 半导体特性测试仪IV曲线扫描仪

    普赛斯仪表半导体特性测试仪IV曲线扫描仪集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下纳安级测...

    型号: S200B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:24:51 对比
    半导体特性测试仪IV曲线扫描仪IV测试仪IV特性测试仪半导体测试仪器
  • 晶圆级微电子材料器件测试系统

    依托丰富的半导体行业应用背景与岭先的测试测量技术,普赛斯仪表推出基于SMU源表的微电子和集成电路实训平台系统方案,提供多学科实验实训测试解决方案,携手高校共同培...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:22:28 对比
    微电子测试系统晶圆测试系统微电材料测试系统微电器件测试系统
  • 半导体测试仪器

    武汉普赛斯仪表半导体测试仪器具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:20:32 对比
    半导体测试仪半导体测试仪器半导体参数分析仪半导体分析仪参数测试仪器
  • 半导体特性曲线分析仪IV+CV测试仪

    SPA-6100半导体特性曲线分析仪IV+CV测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:18:24 对比
    半导体特性曲线特性曲线分析仪半导体器件测试仪半导体分析仪特性曲线分析仪
  • 半导体特性曲线IV+CV测试仪

    SPA-6100半导体特性曲线IV+CV测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:16:41 对比
    CV测试仪IV测试仪IV+CV测试半导体特性曲线特性曲线测试仪
  • 数字源表IV测试光耦/mos静态电特性参数

    数字源表IV测试光耦/mos静态电特性参数认准普赛斯仪表,普赛斯教学实验平台采用一体化设计,集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表;搭配丰富的测试...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:15:06 对比
    数字源表mos静态电特性光耦静态电特性参数IV扫描源表
  • 数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数

    数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数认准普赛斯仪表,普赛斯教学实验平台采用一体化设计,集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表;搭配丰富的测试...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:12:52 对比
    数字源表mos静态电特性光耦静态电特性电特性参数测试
  • 材料特性分析半导体参数分析仪

    SPA-6100型材料特性分析半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:11:12 对比
    半导体参数分析半导体参数分析材料特性分析半导体特性分析仪半导体分析仪器
  • 半导体电学特性测试系统IV+CV测试仪

    SPA-6100型半导体电学特性测试系统IV+CV测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:06:43 对比
    电学特性测试半导体测试系统IV+CV测试CV测试系统半导体参数分析仪
  • 宽量程半导体参数分析仪0-1200V/0-100A

    宽量程半导体参数分析仪0-1200V/0-100A具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 13:02:38 对比
    半导体参数分析半导体参数分析半导体器件分析半导体分析仪器参数测试仪器
  • 半导体参数分析仪1200V

    SPA-6100型半导体参数分析仪1200V可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的...

    型号: SPA6100 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:56:40 对比
    半导体参数分析半导体参数分析半导体器件分析半导体分析仪器参数测试仪器
  • MEMS气体传感器测试系统

    通常,气体传感器 I-V 特性测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而,由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:52:52 对比
    气体传感器测试MEMS传感器测试传感器测试系统气体传感器测试系统
  • SiC+GaN静态参数测试系统

    普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静...

    型号: PMST-3500... 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:51:01 对比
    SiC静态参数GaN静态参数SiC静态测试GaN静态测试静态测试系统
  • 大功率igbt测试设备igbt测试仪器

    普赛斯大功率igbt测试设备igbt测试仪器 ,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、...

    型号: PMST-3500... 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:48:57 对比
    IGBT测试设备igbt测试仪大功率igbt测试仪器静态测试设备
  • SMU源表IV测试燃料电池电性能参数

    普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下纳安级测量、1000A脉冲大电流输...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:46:31 对比
    SMU源表源表燃料电池性能参数IV测试数字源表
  • 半导体电阻式传感器电性能IV测试精密源表

    在传感器研究的早期阶段,利用I-V特性分析技术,可以简化用于气体检测系统和分析仪器的传感器合格验证。无论对于新材料、新技术研发还是传感器的生产测试,将I-V特性...

    型号: S100B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:44:41 对比
    传感器电性能测试传感器IV测试数字源表精密源表源表
  • 高精密源表轻松实现二极管特性参数分析

    IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一,普赛斯“五合一"高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所...

    型号: S300B 所在地:武汉市参考价: ¥1000更新时间:2024/1/2 12:42:11 对比
    源表精密源表二极管特性分析二极管IV测试二极管参数测试

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