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SWY2855介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。SWY2855介电常数和介质损耗测试仪符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。SWY2855介电常数和介质损耗测试仪.SWY2855介电常数和介质损耗测试仪
SWY2855介电常数和介质损耗测试仪
型号 | SWY2851D | SWY2852D | SWY2853D |
工作频率范围 | 50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器 | 1kHz~70MHz 四位数显,数字合成 精度:±50ppm | 50kHz~160MHz 四位数显,数字合成 精度:±50ppm |
Q值测量范围 | 1~1000 三位数显,±1Q分辨率 | 1~1000 四位数显,±0.1Q分辨率 | 1~1000 四位数显,±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 | 40~500 pF ΔC±3pF | 40~500 pF ΔC±3pF | 13~230 pF |
电容测量误差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH | 约20nH | 约8nH |
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