GWINSTEKGUT/6000A数字集成电路测试仪
GWINSTEKGUT/6000A集成电路测试仪是一款台式IC测试仪。鉴于使测试任务自动化，GWINSTEKGUT/6000A集成电路测试仪包含自动搜索功能和回圈测试功能等上等功能。并提供智能化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GWINSTEKGUT/6000A集成电路测试仪更接近零维护，减少了使用者不必要的争议。测试器件大1800多种常见的TTL和COMS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
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循环测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可测量的IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
测试针脚: 28 Pin |
技术参数：
| 测试范围 |
| | 54/74 系列 TTL |
| 4000 及 4500 系列 CMOS |
| 测量种类 |
| | 约 1800 种 |
| 测试电压 |
| | 5V DC |
| 测试时间 |
| | 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC |
| 电源 |
| | 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
| 尺寸&重量 |
| | 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤 |
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