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冷热冲击试验箱测试电脑芯片-高低温试验箱

参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号TSD-80F-3P

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地东莞市

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更新时间:2021-04-02 10:37:49浏览次数:137次

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产地 国产 额定电压 380V
加工定制 湿度范围 10%~98%% R.H
适用领域 其他 温度范围 -40~+150℃
冷热冲击试验箱测试电脑芯片冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

 压缩机:冷热冲击试验箱测试电脑芯片

为了保证试验箱降温速率和低温度的要求,本试验箱采用一套进口德国半封闭压缩机所组成的二元复叠式水冷制冷系统(需在室外安装每小时冷却水量为10吨的循环冷却水塔,由用户提供)。复叠式制冷系统包含一个高温制热循环和一个低温制冷循环,其连接容器为蒸发冷凝器,蒸发冷凝器是也到能量传递的作用,将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去,实现降温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术,一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节,使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。

执行与满足标准冷热冲击试验箱测试电脑芯片

1.GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件。

2.GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件。

3.GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

4.GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验。

5.GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验。

6.GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温。

7.GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温。

8.GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验华台仪器主营产品。

9.GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验。

10.GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)。

高低温冲击试验箱执行与满足标准:

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. 国军标GJB150.3-86;

5. 国军标GJB150.4-86;

6. 国军标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

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