型号规格

TESA Hite

400

700

测量范围

mm

415

715

应用范围配标准附件 配订货号的测头座 配订货号S的测头座 

mm 

 570 625 795

 870 925 1095

允许误差

(2.5+4L)μm,(L单位为米/L in m)

重复性(带标准附件)

±2s≤2μm

运动速度

500 mm/s

测量力(声音信号)

1.5±0.5N

电源

6V 可充电电池

一次充电工作时间

60h

微调装置

√

测头锁定

√

机械垂直度(μm)

<10

<15

主机重量(kg)

27

32

描述

在同一个方向上进行长度测量(测量模式1), 无须考虑测头直径

在上下方向上进行长度测量(测量模式2), 要考虑测头直径

<连续性>显示测量(测量模式3)

在测量模式2状态下显示出上两次触测值的差值

在测量模式1和模式2状态下显示出上两次显示值的差值

在测量模式2状态下, 通过两次触测来建立基准点,以获得各种长度和位置坐标

在测量模式2状态下, 通过一次触测来建立基准点,以获得各种长度测量

在测量模式1, 2和3状态下建立新的基准点

在测量模式1, 2和3状态下, 予置数输入

自动将测量数据传输给外设

确认并记录数据在仪器存储器中

增位测量, 表示找到点(测内外直径时使用)

减位测量, 表示找到点(测内外直径时使用)

每按一下,即将读数传给外设

公英制单位转换

取消上一次功能或测量选择

仪器开关键, 当面板后部的设置键3置为ON时,仪器在停止使用达16分钟时会自动

维修美国NanoMap-PS台阶仪

维修美国NanoMap-PS台阶仪

【探针接触式轮廓仪】台阶仪,全新美国进口台阶仪 性价比高

NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪

AFM同款位移传感器，超高精度

压电陶瓷驱动扫描，无内源振动

自集成主动反馈式防震系统

真正无需额外辅助防震系统，实现高重复性纳米测量

纳米量级科学研究的*产品

NanoMap-PS台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面，自动测量深受广大客户欢迎。

测量表面可以覆盖多种材料表面：金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，对于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好。热噪声是同类产品的。垂直分辨率可达0.1nm。可测表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料，金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等；
 AEP的技术日新月异。欲了解新的产品性能参数。

主要参数 :  

垂直分辨率            0.1nm

垂直量程        1000um
探针接触力            0.03mg-100mg

平台范围             直径150毫米（可选200毫米或更大）
高清图像               4级放大，彩色CCD
成像光源               双长寿命强光LED

金刚石探针            0.5um到25um可选