光纤几何参数测试实验系统 返回列表页

一、产品简介

XRS-GCNFP-B型光纤几何参数测试实验系统供科研单位、高等学校和实验室观察光纤横截面之用，其放大倍数从50×～400×共6种。用光纤参数（近场）测试光源，对光纤纤芯和包层进行照明。选用电子目镜，可在微机上观察，并进行显微镜放大率的标定。

二、仪器功能

1、近场测量仪的放大率校准实验

2、光纤几何参数测量实验

（1）纤芯直径测量实验

（2）包层直径测量实验

（3）纤芯和包层不圆度测量实验

（4）纤芯和包层的同芯度测量实验

3、光纤折射率分布曲线测试实验

4、光纤光强分布现象观测实验

1、光源：工作波长：1310±20nm，1550±20nm，输出功率：>-3dBm；连续可调，输出端口：FC/PC，稳定性：<0.5dB(5h), <0.1dB(15Min)，光源类型：LD，波长稳定性：<±0.6nm(5h,温度变化≤2℃)
2、光功率计：波长范围：800～1700nm，输入接口：FC，校准波长：850nm,1310nm,1480nm,1550nm
3、偏振控制器：插损：<0.1dB，PDL：<0.1dB
4、固定衰减器：5db，10db
5、可调衰减器：0~30db
6、隔离器：>30dB
7、波分复用器：1*2,1310nm/1550nm
8、光纤耦合器：2*2,1:1