电阻率及型号测试仪 返回列表页

产品名称： 电阻率及型号测试仪 货　　号：29364 产品型号：HAD- JX2008

一  产品说明

电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

三、 产品特点

<!--[if !supportLists]-->1 <!--[endif]-->仪器采用 220V 交流电源供电。

<!--[if !supportLists]-->2 <!--[endif]-->同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。

<!--[if !supportLists]-->3 <!--[endif]-->拥有较高的电阻率测试分辨率，小可到 0.001 欧姆.厘米。

<!--[if !supportLists]-->4 <!--[endif]-->能精确的分辨电阻率在 0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。

<!--[if !supportLists]-->5 <!--[endif]-->独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。

<!--[if !supportLists]-->6 <!--[endif]-->适中的体积和便携性。

<!--[if !supportLists]-->7 <!--[endif]-->简单的操作，快速的测试。

<!--[if !supportLists]-->8 <!--[endif]-->低廉的价格，很高的性价比。

四、 参数指标

<!--[if !supportLists]-->1 <!--[endif]-->供电电源 220V±10% 50Hz AC

<!--[if !supportLists]-->2 <!--[endif]-->功耗<1w

3 主机尺寸 155×120×50mm

<!--[if !supportLists]-->2 <!--[endif]-->电阻率测试范围 0.001~50 欧姆.厘米

<!--[if !supportLists]-->3 <!--[endif]-->电阻率测试精度 ±5%±2LSB