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hemiview林地冠层分析系统-冠层分析仪/叶面积指数仪

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更新时间：2021-07-01 13:43:53浏览次数：356次

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产品简介

hemiview林地冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。

详细介绍

一用途

hemiview林地冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。

二原理

使用180度鱼眼镜头和数码单反相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入HemiView软件，进行分析处理。

三组成

四 系统特点

1 清晰的成像能力

本系统采用佳能EOS单反相机来拍摄照片，该相机拥有2600万像素成像能力，大大提高了相片分辨率，从而使分析更加准确。

2 快速、简便的操作

搭配自平衡支架，使镜头自动水平，使得测量更加简单，操作更加方便；平衡架上面配有南、北标志，可以在照片上清晰的标记处南北方向，使图片后期处理更加方便。

3 多方位的拍摄

该系统配有180°广角、高分辨率的鱼眼镜头，可以对冠层进行多方位的拍摄，完整的记录各个天空方向。

4 强大的冠层分析能力

通过对照片分析，可以非破坏性的测量叶面积指数、叶面倾角、叶面积指数的空间分布、冠层郁闭度、光照间隙及间隙分布状况等多种冠层参数。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。

5 多样的太阳辐射分析

用户通过选择天顶角分区和方位角分区可以定义冠层图像的分析区域，可以计算辐射指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布；直接辐射、漫辐射、总辐射变化；一天内每隔小时内的冠层上下的辐射变化；季节内特定天内的每天辐射变化。

6 可以分析的参数