亚铭（北京）科技有限公司
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高频（微波）介电常数测试仪（TE空洞共振腔）
仪器简介：
TE空洞共振腔于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5G（第五代移动通信系统），可达40GHz的频率。
有固定的间隙用于插入待测样品，并且在测量稳定性方面优于将样品夹在谐振器中的方法。
可以测量各种材料（例如软样品和脆性样品）的介电常数。
技术参数：
可测试频率范围： 10G-40GHz
介电常数Epsilon：1-5， 准确度： ±1%，
介电损耗tangent delta：0.01-0.0001， 准确度：±5%
样品形状：片状（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）
符合标准JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13
拥有多种腔体，每个腔可测一个频点:
主要特点：
TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），专门用于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜。
应用领域：
主要应用于5G材料，例如薄膜等。
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）
相关资料
·日本AET高频（微波）介电常数分析仪
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